穿透式電子顯微鏡

簡稱	TEM
英文名稱	Transmission Electron Microscope
功能說明	1.穿透影像觀察(可至nm等級) 2.電子繞射作晶體結構分析(可作SAD及NBD)。 3.提供高亮度空間解析度的電子束，適合多樣化的試片分析。
購置日期	93.07.30
購置金額	7,595,095元
廠牌	JEOL
型號	JEM2010
儀器規格	1.Performance： 　●Resolution:0.25nm(point resolution)、0.14nm(Lattice Resolution) 　●Magnification:50 to 1200000x 2.Electron Optics: 　●Electron gun: LaB6 　●Energy spread (eV): 1.5 　●Condition Lift (hr):10000 　●Vacuum (Pa):10-5 　●Temperature (K):1800 　●Short time stability: 1% 　●long time stability:3% Hr 　●Current efficiency:100% 3.TEM mode： 影像觀察，解析度可達0.23nm(AHR)，倍率可達百萬以上，並可利用OBJ aperture觀察明場像(Bright field image，一般觀察)或暗場像(Dark field image，某特定繞射晶面或缺陷觀察)。 4.SAD mode： 選區繞射利用選區aperture做um級的繞射，鑑定晶體結構。 5.NBD mode： 微區繞射(nano beam diffraction)利用微細電子束作nm級的繞射，鑑定微區晶體結構。 6.數位式CCD影像系統： 　●CCD Active area: 36mm × 24mm 　●CCD Size: 4008 × 2672 pixels, each pixel 9μm × 9μm
附加配件	1.Single Tilting Holder：標準樣品槽座 2.Double Tilting Holder：Beryllium材質，雙傾斜基座：X軸±40°±；Y軸±30°。 3.Cooling Double Tilting Holder：可適用於易受熱破壞之材料或生物型樣品。