穿透式電子顯微鏡
| 簡稱 | TEM |
|---|---|
| 英文名稱 | Transmission Electron Microscope |
| 功能說明 | 1.穿透影像觀察(可至nm等級) 2.電子繞射作晶體結構分析(可作SAD及NBD)。 3.提供高亮度空間解析度的電子束，適合多樣化的試片分析。 |
| 購置日期 | 93.07.30 |
| 購置金額 | 7,595,095元 |
| 廠牌 | JEOL |
| 型號 | JEM2010 |
| 儀器規格 | 1.Performance： ●Resolution:0.25nm(point resolution)、0.14nm(Lattice Resolution) ●Magnification:50 to 1200000x 2.Electron Optics: ●Electron gun: LaB6 ●Energy spread (eV): 1.5 ●Condition Lift (hr):10000 ●Vacuum (Pa):10-5 ●Temperature (K):1800 ●Short time stability: 1% ●long time stability:3% Hr ●Current efficiency:100% 3.TEM mode： 影像觀察，解析度可達0.23nm(AHR)，倍率可達百萬以上，並可利用OBJ aperture觀察明場像(Bright field image，一般觀察)或暗場像(Dark field image，某特定繞射晶面或缺陷觀察)。 4.SAD mode： 選區繞射利用選區aperture做um級的繞射，鑑定晶體結構。 5.NBD mode： 微區繞射(nano beam diffraction)利用微細電子束作nm級的繞射，鑑定微區晶體結構。 6.數位式CCD影像系統： ●CCD Active area: 36mm × 24mm ●CCD Size: 4008 × 2672 pixels, each pixel 9μm × 9μm |
| 附加配件 | 1.Single Tilting Holder：標準樣品槽座 2.Double Tilting Holder：Beryllium材質，雙傾斜基座：X軸±40°±；Y軸±30°。 3.Cooling Double Tilting Holder：可適用於易受熱破壞之材料或生物型樣品。 |
