英文名稱

Scanning Tunneling Microscopy

功能說明

STM 為一常用於研究材料表面的工具。其施加一電位差於樣品與探針之間，利用穿隧效應所產生的電流，來獲得樣品表面形貌。其所構成之二維圖像最高解析度可以至原子尺度，是作為研究可導電樣品表面原子的有利工具。另外，此儀器也可以量測表面之 I-V 特性，稱為穿隧能譜術 (STS)，藉此來研究樣品表面的電子結構，並可搭配鎖相放大器來獲得局域態密度分佈 (LDOS)。
(樣品限制:導體, 半導體, 半金屬)

購置日期

103.08.20

購置金額

2,774,547元

廠牌

Danish MicroEngineering

型號

DME 1749, DualScope C-26 Control System

儀器規格

Standard sample dimensions
 ＊Diameter: max. Ø 10 mm.
＊Weight: should be lower than 15 g.
＊Height above holder plate: max. 0.5 mm.
＊Sample size up to 4.5 mm.

Scan head
＊3-axes piezo motor.
＊Scan range: 5 x 5 µm^2.
＊Tip: Pt/Ir, Ø0.4 mm, mechanical sharpened.

Sample holder suspension concept
＊Leaf springs, symmetric three point contact.

附加配件